服务能力

(说明：请输入需要查询仪器名称，系统会进行模糊查询。查询结果仅供参考。)
认可的校准与测量能力
被测（参量/仪器/物质） 校准类别/校准参量 测量仪器型号/校准方法 扩展不确定度 测量环境/影响量 测量等级
高压功率表 交流功率电能: 频率小于400 Hz： 单相有功功率 与参考标准比较
数值:
单位:
k=:
置信概率:
是否为Urel:
参量:功率因数
指标:1 to 0.5, inductive or capacitive
最小:0.06
最大:10
单位:MW
高压功率表 交流功率电能: 频率小于400 Hz： 单相有功功率 与参考标准比较
数值:
单位:
k=:
置信概率:
是否为Urel:
参量:频率
指标:45 Hz to 65 Hz
最小:0.06
最大:10
单位:MW
高压功率表 交流功率电能: 频率小于400 Hz： 三相有功功率 与参考标准比较
数值:200
单位:µW/VA
k=:2
置信概率:95%
是否为Urel:Yes
参量:电压
指标:6 kV to 10 kV
最小:0.18
最大:30
单位:MW
高压功率表 交流功率电能: 频率小于400 Hz： 三相有功功率 与参考标准比较
数值:
单位:
k=:
置信概率:
是否为Urel:
参量:电流
指标:10 A to 1000 A
最小:0.18
最大:30
单位:MW
高压功率表 交流功率电能: 频率小于400 Hz： 三相有功功率 与参考标准比较
数值:
单位:
k=:
置信概率:
是否为Urel:
参量:功率因数
指标:1 to 0.5, inductive or capacitive
最小:0.18
最大:30
单位:MW
高压功率表 交流功率电能: 频率小于400 Hz： 三相有功功率 与参考标准比较
数值:
单位:
k=:
置信概率:
是否为Urel:
参量:功率
指标:45 Hz to 65 Hz
最小:0.18
最大:30
单位:MW
分流器 相位：分流器相位误差 与参考标准比较
数值:4 to 128
单位:µrad
k=:2
置信概率:95%
是否为Urel:No
参量:频率
指标:400 Hz to 100 kHz
最小:0.5
最大:100
单位:A
谐波分析仪，信号发生器 电压电流波形：非正弦波形：稳态：谐波电流 直接比较
数值:40
单位:µA/A
k=:2
置信概率:95%
是否为Urel:Yes
参量:谐波次数
指标:1 to 60
最小:0.1
最大:50
单位:A
谐波分析仪，信号发生器 电压电流波形：非正弦波形：稳态：谐波电压 直接比较
数值:30
单位:µV/V
k=:2
置信概率:95%
是否为Urel:Yes
参量:谐波次数
指标:1 to 60
最小:60
最大:500
单位:V
谐波分析仪，信号发生器 电压电流波形：非正弦波形：稳态：谐波功率 Comparison
数值:50
单位:µW/VA
k=:2
置信概率:95%
是否为Urel:Yes
参量:谐波次数
指标:1 to 60
最小:3
最大:30000
单位:W
开展校准的被测设备清单
被测设备名称 校准方法（名称、编号、版本号） 限制范围和说明
氘灯（紫外辐射标准光源、紫外辐射标准灯） JJG384-2002 光谱辐射照度标准灯检定规程；; NIM-ZY-GX-FS-403 氘灯光谱辐射照度校准规范。 测量200-400nm光谱辐射照度
水冷氙灯（水冷氙灯灯管） JJF1525-2015氙弧灯人工气候老化试验装置辐射照度参数校准规范 测量340nm、420nm等光谱辐射照度及300-400nm，300-800nm等辐射照参数
椭偏仪、硅片标片、氧化硅薄膜、氮化硅薄膜标准样品、非标光学薄膜、薄膜折射率标样/标片、反射式相位延迟膜 NIM-ZY-GX-FS-405椭偏仪校准规范（已报批）; NIM-ZY-GX- FS-412椭偏仪校准装置和标准样品椭偏角校准规范; Preparation and certification of SRM2530, ellipsometric parameters Δand ψ and derived thickness and refractive index of a silicon dioxide layer on silicon (NIST. Spec. Publ. 260-109, 1988); GJB/J 5463光学薄膜折射率和厚度测试仪检定规程 椭偏角（CNAS），模型等效介质参量：薄膜折射率n、薄膜色散n(λ)及k(λ)、平均膜厚等。
测光表 JJG1325-90曝光量基准 曝光量、时间响应、F数、EV值
多光谱相机 JJG1325-90曝光量基准 光谱响应、动态范围、线性、分辨率、空间频率响应
闪光标准灯 JJG1325-90曝光量基准; GB/T 13987-92照相用电子闪光装置闪光指数的确定
数码相机(CCD成像装置、工业内窥镜 JJG1325-90曝光量基准 ; JB/T 10362-2010数码相机 动态范围、增益、信噪比、线性、分辨率、空间频率响应、像素
双向反射分布函数BRDF样品(双向反射分布函数BRDF测量仪) NIM-ZY-GX-CP-225双向反射分布函数(BRDF)测量仪校准规范
散射式能见度仪（能见度传感器、能见度测试仪） JJF 1303-2011雾度计校准规范; NIM-ZY-GX-CP-225双向反射分布函数(BRDF)测量仪校准规范
线性光束感烟探测器滤光片 JJG1034-2008光谱光度计标准滤光器检定规程; GB4715-2005 点型感烟火灾探测器; GB14003-2005 线型光束感烟火灾探测器
认可的检测能力
检测对象 检测标准名称及编号 项目名称 说明
治疗用X、γ辐射装置 光子和电子束吸收剂量测定 辐射质
光子和电子束吸收剂量测定 重复性与稳定性
光子和电子束吸收剂量测定 吸收剂量
X、γ射线探伤机 γ射线探伤机 GB/T 14058-2008 JB/T 7413 4.2.1 X射线机穿透力
X、γ射线探伤机 γ射线探伤机 GB/T 14058-2008 JB/T 7413/4.2.2 X射线机透照灵敏度
X、γ射线探伤机 γ射线探伤机 GB/T 14058-2008 JB/T 7413/4.2.4 X射线机计时器计时误差
X、γ射线探伤机 γ射线探伤机 GB/T 14058-2008 JB/T 7413/4.3 稳定性
X、γ射线探伤机 γ射线探伤机 GB/T 14058-2008 JB/T 7413/4.4 卫生、安全要求
X、γ射线探伤机 γ射线探伤机 GB/T 14058-2008 JB/T 7413/5.3 X射线机穿透力试验
X、γ射线探伤机 γ射线探伤机 GB/T 14058-2008 JB/T 7413/5.4 X射线机透照灵敏度试验